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狄利克雷过程

狄利克雷过程(Dirichlet process,DP)是一种“分布上的概率分布”:它的随机结果不是一个数,而是一整个概率测度 G。基准分布 H 指定平均质量应放在哪里,集中参数 α>0 指定随机质量在基准附近的波动程度。这里的“过程”不要求有时间顺序。

对任意有限划分分配质量

在带有可测集合的空间上,写 G∼DP(α,H),是说对任意有限可测划分 A1,…,Ak, (G(A1),…,G(Ak))∼Dir⁡(αH(A1),…,αH(Ak)). 各块互不相交且并为整个空间。若某块 H(Aj)=0,相应质量恒为零,可先剔除这类块,再对其余正参数写普通狄利克雷密度。只对某一个固定三分类指定狄利克雷分布,还不等于定义了整个过程;要求覆盖所有有限划分。[1]

取二块划分 (A,Ac),令 h=H(A),则 G(A)∼Beta⁡(αh,α(1−h))。利用贝塔分布的矩公式得到 𝔼[G(A)]=h,Var⁡(G(A))=h(1−h)α+1. 所以增大 α 不改变平均质量,只减小波动。例如 h=0.3,α=4 时,该质量的均值为 0.3,方差为 0.042。

观测后的共轭更新

设 θi∣G 条件独立且共同服从 G。对任意固定划分,记落入 Aj 的观测数为 nj。有限划分上的似然含因子 ∏jG(Aj)nj,乘以狄利克雷先验密度后,各参数从 αH(Aj) 变成 αH(Aj)+nj。由于这个更新对每个有限划分都成立,得到 G∣θ1:n∼DP(α+n,αH+∑i=1nδθiα+n). δx 是在 x 处质量为一的点测度。对标准的实值或其他标准博雷尔观测空间,该式给出通常使用的后验过程。其预测分布等于后验平均测度: Pr⁡(θn+1∈A∣θ1:n)=αH(A)+∑i1{θi∈A}α+n. 分子是基准提供的质量加上观测计数,不是把所有不同取值等权平均。[1]

三个区域上的一次更新

把观测空间划成 A,B,C,基准质量为 (0.2,0.5,0.3),取 α=2。先验参数是 (0.4,1,0.6)。四个教学观测分别产生计数 (3,1,0),后验参数成为 (3.4,2,0.6),总和为六。因此下一次落入三块的概率为 (1730,13,110). 虽然尚未观测到 C,它仍保留十分之一的预测概率。这部分来自基准质量,并非凭空增加一个观测。

三个区域的基准概率0.2、0.5、0.3,与四次观测后预测概率17/30、1/3、1/10对比
图比较同一划分上的先验平均和后验平均。每组三个柱子的和都为一;柱子并非一次随机抽取的G的完整形状。

变式。 若保持四个计数不变,把 α 改为八,总质量变为十二,三块的预测概率分别为 Pr⁡(A)=1.6+312=2360,Pr⁡(B)=4+112=512,Pr⁡(C)=2.412=15. 较大的集中参数在同样样本量下使预测更靠近基准。

离散抽样与连续密度

DP 抽出的 G 几乎必然是离散测度,即使基准 H 有连续密度。这可通过折棍过程的可数点质量构造理解;各点的位置取自基准,但质量集中在被抽到的可数个位置。若直接以 G 为观测分布,重复取值会有正概率,其分组机制对应中国餐馆过程。

若希望拟合连续观测密度,可以另设 xi∣θi∼k(xi∣θi),再令 θi∣G∼G。这样随机的是混合分布的参数测度,连续性由核 k 提供;这个狄利克雷过程混合模型,与直接把连续数据分布设为离散 G 是两种不同的建模层次。

参考文献

  1. ↑ 1.0 1.1 Yee Whye Teh:Dirichlet Processes: Tutorial and Practical Course,2007,“Dirichlet Processes”“Posterior Dirichlet Processes”“Representations of Dirichlet Processes”。